Déi technesch Indicateure vu qualitativ héichwäertegem Diamant-Mikropulver betreffen d'Partikelgréisstverdeelung, d'Partikelform, d'Reinheet, d'physikalesch Eegeschaften an aner Dimensiounen, déi direkt den Uwendungseffekt a verschiddenen industrielle Szenarien (wéi Polieren, Schleifen, Schneiden, etc.) beaflossen. Folgend sinn déi wichtegst technesch Indicateuren an Ufuerderungen, déi aus de komplette Sichresultater sortéiert goufen:
Partikelgréisstverdeelung a Charakteriséierungsparameter
1. Partikelgréisstberäich
D'Partikelgréisst vum Diamant-Mikropulver ass normalerweis 0,1-50 Mikrometer, an d'Ufuerderunge fir d'Partikelgréisst variéiere wesentlech a verschiddenen Uwendungsszenarien.
Poléieren: Wielt 0-0,5 Mikron bis 6-12 Mikron Mikropulver fir Kratzer ze reduzéieren an d'Uewerflächenfinish ze verbesseren.
Schleifen: Mikropulver tëscht 5-10 Mikron an 12-22 Mikron ass besser geegent fir souwuel Effizienz wéi och Uewerflächenqualitéit.
Fein Schleifen: 20-30 Mikron Pulver kann d'Schleifeffizienz verbesseren
2. Charakteriséierung vun der Partikelgréisstverdeelung
D10: déi entspriechend Partikelgréisst vun 10% vun der kumulativer Verdeelung, déi den Undeel vun de feine Partikelen reflektéiert. Den Undeel vun de feine Partikelen soll kontrolléiert ginn, fir eng Reduktioun vun der Schleifeffizienz ze vermeiden.
D50 (Medianenduerchmiesser): stellt déi duerchschnëttlech Partikelgréisst duer, déi den Haaptparameter vun der Partikelgréisstverdeelung ass an direkt d'Veraarbechtungseffizienz an d'Genauegkeet beaflosst.
D95: Déi entspriechend Partikelgréisst vun 95% kumulativer Verdeelung, an d'Kontroll vum Inhalt vu grousse Partikelen (wéi z.B. D95, wann de Standard iwwerschratt gëtt, kann et einfach Kratzer op de Werkstécker verursaachen).
Mv (Volumenduerchschnëttlech Partikelgréisst): staark beaflosst vu grousse Partikelen a gëtt benotzt fir d'Verdeelung vum Grobdeel ze evaluéieren
3. Standardsystem
Zu den internationalen Normen, déi dacks benotzt ginn, gehéieren ANSI (z.B. D50, D100) an ISO (z.B. ISO6106:2016).
Zweetens, Partikelform an Uewerflächencharakteristiken
1. Formparameter
Ronnheet: wat méi no d'Ronnheet bei 1 läit, wat méi kugelfërmeg d'Partikelen sinn an dest besser ass den Poliereffekt; Partikelen mat enger gerénger Ronnheet (vill Ecker) si besser geegent fir d'Galvaniséierung vu Drotsägen an aner Kulissen, déi schaarf Kanten brauchen.
Plackenähnlech Partikelen: Partikelen mat enger Transmittanz vun > 90% gëllen als plackenähnlech, an den Undeel soll manner wéi 10% sinn; ze vill plackenähnlech Partikelen féieren zu enger Ofwäichung vun der Partikelgréisstdetektioun an engem onstabilen Applikatiounseffekt.
Perlenfërmeg Partikelen: D'Längt-Breet-Verhältnis vun de Partikelen > 3:1 soll streng kontrolléiert ginn, an den Undeel däerf net méi wéi 3% sinn.
2. Formdetektiounsmethod
Optescht Mikroskop: gëeegent fir d'Formobservatioun vu Partikelen iwwer 2 Mikrometer
Rasterelektronemikroskop (SEM): gëtt fir d'Morphologieanalyse vun ultrafeinen Partikelen op Nanometerniveau benotzt.
Kontroll vu Rengheet an Onreinheeten
1. Onreinheetsgehalt
D'Reinheet vum Diamant soll iwwer 99% sinn, an d'Metallverunreinheeten (wéi Eisen, Koffer) a schiedlech Substanzen (Schwefel, Chlor) solle strikt ënner 1% kontrolléiert ginn.
Magnéitesch Ongereinheete sollten niddreg sinn, fir den Effekt vun der Agglomeratioun op d'Präzisiounspoléieren ze vermeiden.
2. Magnéitesch Suszeptibilität
En Diamant mat héijer Rengheet sollt bal net-magnetesch sinn, an eng héich magnetesch Suszeptibilität weist op Reschtmetallongereien hin, déi duerch d'elektromagnetesch Induktiounsmethod nogewise musse ginn.
Indikatoren fir kierperlech Leeschtung
1. Schlagfestigkeit
D'Zerräissbeständegkeet vu Partikelen ass charakteriséiert duerch déi onënnerbrach Geschwindegkeet (oder Hallefrësszäiten) nom Schlagtest, wat direkt d'Haltbarkeet vu Schleifinstrumenter beaflosst.
2. Thermesch Stabilitéit
Feinpulver muss Stabilitéit bei héijen Temperaturen (wéi 750-1000 ℃) behalen, fir d'Bildung oder d'Oxidatioun vu Graphit ze vermeiden, déi zu enger Reduktioun vun der Festigkeit féiert; déi üblech thermogravimetrisch Analyse (TGA) Detektioun.
3. Mikrohärte
D'Mikrohärte vum Diamantpulver ass bis zu 10000 kq/mm2, dofir ass et néideg eng héich Partikelstäerkt ze garantéieren, fir d'Schnëtteffizienz z'erhalen.
Ufuerderunge fir d'Adaptabilitéit vun der Applikatioun 238
1. Gläichgewiicht tëscht der Partikelgréisstverdeelung an dem Veraarbechtungseffekt
Grof Partikelen (wéi z.B. en héijen D95) verbesseren d'Schleifeffizienz, awer reduzéieren d'Uewerflächenqualitéit: fein Partikelen (méi kleng D10) hunn de Géigendeeleffekt. Passt de Verdeelungsberäich un d'Ufuerderungen un.
2. Formadaptatioun
Block-Multi-Edge-Partikelen si gëeegent fir Harz-Schleifrieder; sphäresch Partikelen si gëeegent fir Präzisiounspoléieren.
Testmethoden a Standarden
1. Detektioun vun der Partikelgréisst
Laserdiffraktioun: wäit verbreet fir Mikron-/Submikronpartikelen, einfach Operatioun an zouverlässeg Donnéeën;
Siebmethod: nëmme fir Partikelen iwwer 40 Mikrometer uwendbar;
2. Formdetektioun
E Partikelbildanalysator kann d'Parameteren wéi d'Kugelgréisst quantifizéieren an de Feeler vun der manueller Observatioun reduzéieren;
zesummefaassen
Héichwäertegt Diamant-Mikropulver erfuerdert eng ëmfaassend Kontroll iwwer d'Partikelgréisstverdeelung (D10/D50/D95), d'Partikelform (Ronnheet, Flocken- oder Nadelengehalt), d'Reinheet (Onreinheeten, magnetesch Eegeschaften) an d'physikalesch Eegeschaften (Stäerkt, thermesch Stabilitéit). D'Produzente sollten d'Parameteren op Basis vun spezifeschen Uwendungsszenarien optimiséieren a konsequent Qualitéit duerch Methoden wéi Laserdiffraktioun an Elektronemikroskopie garantéieren. Bei der Auswiel sollten d'Benotzer spezifesch Veraarbechtungsufuerderungen (wéi Effizienz an Uewerflächenofbau) berécksiichtegen an d'Indikatoren deementspriechend upassen. Zum Beispill sollt Präzisiounspoléieren d'Kontroll vun D95 a Ronnheet prioritär behandelen, während Grobschleifen d'Formufuerderunge relaxéiere kann, fir d'Effizienz ze verbesseren.
Den uewe genannten Inhalt ass en Auszuch aus dem Superhard Materials Network.
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 11. Juni 2025
